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一种抗盐雾腐蚀能力的局部检测方法

盐雾腐蚀是一种常见和最有破坏性的大气腐蚀。通常讲的盐雾的主要腐蚀成分是海洋中的氯化物盐——氯化钠。盐雾对金属材料表面的腐蚀是由于含有的氯离子穿透金属表面的氧化层和防护层与内部金属发生电化学反应引起的。同时,氯离子含有一定的水合能,易被吸附在金属表面的孔隙、裂缝排挤并取代氯化层中的氧,把不溶性的氧化物变成可溶性的氯化物,使钝化态表面变成活泼表面。造成对产品极坏的不良反应。为了保证电工电子产品在含盐大气条件下能够正常使用,需要对其抗盐雾腐蚀能力进行测试,即进行盐雾试验。由于电子产品的成品或半成品是由单独的元器件通过一系列有序的连接而组成的,往往需要对成品或半成品的某一局部部位的抗盐雾腐蚀能力进行检测,以确定其是否满足要求。目前盐雾试验的对象仅限于电子产品或元器件的整体,而无法对电子产品中的某个具体元器件或局部连接部位进行单一测试。
 
本发明的主要目的是提供一种抗盐雾腐蚀能力的局部检测方法,可以对电子产品的成品或半成品中的任意局部部位进行有效的抗盐雾能力测试。
 
本发明为解决上述问题所采用的解决方案为:
一种抗盐雾腐蚀能力的局部检测方法,包括如下步骤:
(I)将电子产品中准备进行抗盐雾能力测试的部位用胶带或橡皮泥覆盖,边缘密封,并从覆盖物边缘伸出一根引线,以便于使覆盖物脱落;
(2)选取一小块蜡,将蜡加热至熔融,且具有良好的流动性;
(3)将电子产品置于熔融的蜡中轻摇并取出,待蜡凝固;
(4)拉动步骤(I)中的引线,使覆盖的胶带或橡皮泥脱落,露出被测部位,此时除被测部位外,其他部位均被一层蜡覆盖,使盐雾试验仅对被测部位发生作用;
(5)对电子产品进行盐雾试验。
进一步,所述蜡为石蜡或石蜡与其他成分的混合蜡。
本发明具有的优点和积极效果是:本发明提供一种抗盐雾腐蚀能力的局部检测方法,可以对电子产品中的某个具体元器件或局部连接部位进行单一测试,测试结果准确,位置精确;不仅避免了整体测试中不易对局部抗盐雾能力进行测试分析,同时可以对元器件间的连接部位进行有效测试,确定连接效果。
 
具体实施方式:
下面结合具体实施方式对本发明作进一步说明,但不能作为本发明的限定。
对一块集成电路板的零件进行抗盐雾能力测试,步骤包括:[0015]
(1)将集成电路板中准备进行抗盐雾能力测试的零件用橡皮泥覆盖,边缘压紧密封,并从橡皮泥底部边缘伸出一根引线;
(2)选取一小块石蜡,将石蜡加热至熔融,且具有良好的流动性;
(3)将集成电路板置于熔融的石蜡中轻摇并取出,待蜡凝固;
(4)拉动步骤(I)中的引线,使覆盖的橡皮泥脱落,露出被测零件;
(5)对集成电路板进行盐雾试验。